透光式布料偏移檢測裝置
- 摘要 一種透光式布料偏移檢測裝置,其構成是,檢測受光器處于作試縫動作的被縫制布料的多個點的受光量,利用來自CPU的反饋信號自動調整與受光器連接的可變電阻器的感度,以使該多個檢測值中最大的檢測值與布料偏移檢測用基準值相一致。采用該結構,不需要手動操作所帶來的麻煩的感度調整作業,從而在以透光量變化厲害的帶有圖案的布料為縫制對象的情況下也能可靠而正確地進行原來的布料偏移檢測,防止拷邊機在拷邊時產生縫制不良的現象。
申請(專利權)人 大和縫紉機制造株式會社
申請(專利權)人通訊地址 日本大阪府
發明(設計)人 倉田博道; 正岡貴義
代理人 王宏祥
專利代理機構 上海專利商標事務所
申請(專利)號 00104370.6
申請日 2000.03.20
公開(公告)號 1267758
公開(公告)日 2000.09.27
分類號 D05B1/18;G01N21/89
主分類號 D05B1/18
法律狀態
[法律狀態公告日]2001.08.08
[法律狀態]實質審查請求的生效
[頒證日]
主權項 D05B1/18權利要求書 1.一種透光式布料偏移檢測裝置,照光器配置在重合的被縫制布料的一面側,受光器配置在被縫制布料的另一面側,通過判定來自照光器的光由受光器受光的透光量是否超過基準值來檢測有無布料偏移,其特征在于, 具有隨著被縫制布料的縫制動作而檢測受光器處于該被縫制布料多個點的受光量、從而自動調整所述受光器的感度或/及照光器的照光量以使其多個檢測值中最大的檢測值與所述基準值相一致的運算裝置。
說明書光盤號 0054
優先權 1999.3.18 JP 116955/1999